大森 拓哉 | 東京大学 大学院総合文化研究科・教養学部
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概要
関連著者
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大森 拓哉
多摩大学経営情報学部
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大森 拓哉
東京大学 大学院総合文化研究科・教養学部
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繁桝 算男
帝京大学文学部
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繁桝 算男
東京大学大学院総合文化研究科
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大森 拓哉
東京大学
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繁枡 算男
東京大学大学院総合文化研究科
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大森 拓哉
東京大学大学院総合文化研究科
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繁桝 算男
東京大学
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植野 真臣
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東京大学大学院総合文化研究科:(現)名古屋大学大学院経済学研究科・経済学部
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岩手県立大学ソフトウェア情報学部
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植野 真臣
長岡技術科学大学 経営情報系
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成蹊大学経済学部
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山本 義郎
多摩大・経営情報
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早稲田大学
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笹原 宏之
東京大学
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横山 詔一
東京大学
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統計数理研究所・総合研究大学院大学
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北海道大学大学院工学研究科
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深澤 弘美
東京医療保健大学
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星野 崇宏
東京大学 総合文化研究科
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山本 義郎
東海大学
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竹内 光悦
実践女子大学
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山本 義郎
東海大学理学部数学科
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星野 崇宏
東京大学
著作論文
- 統計教育における統計グラフ教育の現状(特別セッション 統計教育の新しい流れ)
- G9-4 漢字選好モデルの数量化I類とニューラルネットによる検討(一般セッション(G9) : CIM (Computer Intensive Methods))(第30回日本行動計量学会大会発表一覧)
- 漢字選好モデルの数量化I類とニューラルネットによる検討(CIM (Computer Intensive Methods))
- 教育におけるデータマイニング(1)
- 教育におけるデータマイニング(1)
- 5.テストレットモデルの母数のベイズ推論(一般セッション 教育II)
- 3.グラフィカルテストレットモデルによる適応型テストへの実データの適用(一般セッション 教育II)
- 多次元潜在変数モデルによるバグルールの類型化の試み(一般セッション 教育)
- ツリーモデルを用いたバグルールの適応型ベイズ診断
- 多次元IRTモデルによるバグの判別(セッションN-4(MK203) 一般セッション 教育)
- テストレットを含む適応型テスト(教育)
- テストレット形式問題のネットワーク型アダプティブテスト(e-learning・e-testing)
- 大問形式のテストのグラフ化と適応型テストにおける項目選択(教育I, 第32回 日本行動計量学会大会発表一覧)
- SD法によるイメージ測定結果の顔グラフによる表現(応用多変量解析)(第31回 日本行動計量学会大会発表一覧)
- 大問形式のテストのグラフ化と適応型テストにおける項目選択(教育I)
- ベイズ統計入門 : BUGSとともに(日本行動計量学会活動報告)
- G12-6 潜在クラスによる選択予測モデル(一般セッション(G12) : ベイジアンモデル)(第30回日本行動計量学会大会発表一覧)
- 大学イメージの顔グラフによる表現
- SD 法によるイメージ測定結果の顔グラフによる表現
- 潜在クラスによる選択予測モデル(ベイジアンモデル)
- ベイズ的アプローチによる2値データの因子分析
- 潜在変数による予測
- 相関構造を仮定したテストレットモデルのベイズ推論--国立大学法人等の教育研究評価データへの適用
- 事例紹介 国立総合大学における学生相談の展開と課題--東京大学における学生相談50年 (特集 学生相談50年--今後の指針)