副島 啓義 | 島津製作所

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概要

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関連著者

• 副島 啓義

  島津製作所

• 副島 啓義

  島津製作所2科計

• 副島 啓義

  島津製作所科学計測

• 青野 正和

  理研

• 片山 光浩

  理化学研究所表面界面工学研究室

• 片山 光浩

  理研

• 青野 正和

  物材機構mana

• 青野 正和

  東理大理

• 林 茂樹

  島津製作所基盤技術研究所

• 野村 英一

  理研

• 野村 英一

  新技団青野プロジェクト

• 丸井 隆雄

  島津製作所京阪奈研究所

• 副島 啓義

  株式会社島津製作所

• 北村 壽朗

  株式会社島津製作所

• Dalley R.

  UCLA

• Williams R.

  UCLA

• 金釜 憲夫

  理化学研究所

• Daley R.S.

  理研

• Williams R.S.

  理研

• 丸井 隆雄

  島津製作所

• 青野 正和

  理化学研究所

• 吉田 豊

  静岡理工科大学

• 武藤 俊介

  名古屋大学大学院工学研究科

• 喜利 元貞

  島津製作所中央研究所

• 喜利 元貞

  (株)島津製作所基盤技術研究所

• 堀 彰男

  島津製作所科学計測

• 川口 博己

  島津製作所科学計測

• 安部 忠広

  川崎製鉄技術研究所

• 森本 一三

  川崎製鉄技術研究所

• 鈴木 健一郎

  川崎製鉄技術研究所

• 鷲見 清

  川崎製鉄技術研究所

• 藤元 克己

  川崎製鉄技術研究所

• 萱島 敬一

  島津製作所科学計測

• 鈴木 健一郎

  川崎製鉄(株)ハイテク研究所

• 野口 伸

  日立金属株式会社

• 今中 拓一

  川鉄鉄鋼研水島

• 萱島 敬一

  島津製作所科学器械工場研究課

• 副島 啓義

  島津総合科学研究所

• 喜利 元貞

  島津製作所技術研究本部

• 森本 一三

  川崎製鉄(株)技術研究所

• 寺本 晃

  島津製作所

• 三田村 茂宏

  島津製作所

• 渡辺 一之

  島津製作所

• 神谷 格

  理研

• 野村 英一

  青野原子制御表面プロジェクト

• King B.

  Newcastle大

• 金釜 憲夫

  理研

• 堀川 幸也

  高知大・農

• 若林 忠男

  島津製作所

• 若林 忠男

  株式会社島津製作所

• 押場 和也

  川鉄鉄鋼研水島

• 銭谷 福男

  島津製作所2科計

• 武藤 俊介

  大阪大学教養部

• 喜利 元貞

  島津製作所

• 押場 和也

  川崎製鉄(株)鉄鋼研究所

• 加藤 政彦

  理研

• King B.V.

  理研

• 武藤 真三

  山梨大学

• Muto S

  Fujitsu Laboratories Ltd.

• 川崎 要造

  金属材料技術研究所

• 喜利 元貞

  島津製作所科学計測

• Muto S

  Kek Ibaraki

• 本間 一広

  金属材料技術研究所

• 渡辺 一之

  都立高専

• 伊藤 昭夫

  電子技術総合研究所

• 三沢 俊司

  電子技術総合研究所

• 武藤 俊介

  名古屋大学

• 萱島 敬一

  島津製作所生産管理本部

• 副島 啓義

  (株)島津製作所

• 野村 英一

  理化学研究所

• 副島 啓義

  島津製作所科学計測第1工場

• 片山 光浩

  理化学研究所

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著作論文

• 235 X 線マイクロアナラィザーの無人分析が可能な全自動化システムの開発(分析, 性質・分析, 日本鉄鋼協会第 93 回(春季)講演大会)
• 顕微メスバウア分光装置の開発と応用
• TEM用MCX-WDX分光器による遷移金属元素分析
• 革新的新技術を用いた高分解能波長分散型X線分光器(MCX分光器)の開発 (特集 センサ・デバイスと機能素子)
• 30p-BPS-26 同軸型直衝突イオン散乱分光装置(CAICISS)の開発とその応用
• 31a-T-1 CAICISSにおけるイオンと中性原子の加速管による分離
• 5p-W-6 CaF_2/Si(111)界面におけるCaSi_2の構造と形成過程のCAICISSによる研究
• 5p-W-5 CAICISSによる表面およびバルクの構造解析
• 29a-P-10 同軸型直衝突イオン散乱分光(CAICISS)の分光器の設計と製作
• 宝石の分野におけるEPMAの応用
• 5.アロフェン質粘土に含まれる鉄のX線マイクロアナライザーによる状態分析
• 走査像における分解能 : X線, 粒子線
• 酸化物の定量に関する二三の試み : X線・粒子線
• 低加速電圧における分析 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
• 低加速SEMの無蒸着観察への応用 (食品・医薬品の分析・測定・試験-3-)
• 島津電子線マイクロアナライザEPM-810(製品紹介) (表面分析)
• 局部分析の空間分解能と解析精度 (マイクロビ-ム アナリシス)
• 表面とミクロの世界--その正体を探るさまざまな手法
• 436 電子線プローブマイクロアナライザーによる状態情報解析(分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 110 回(秋季)講演大会)
• マルチキャピラリX線レンズとその応用
• 最近の表面・界面の構造解析技術 (表面・界面)
• 半導体の表面分析
• 接着と表面分析
• X線マイクロアナライザーによる酸化鉄の状態分析
• X線マイクロアナライザによる化合物薄膜の組成決定・窒化物薄膜の分析
• 最近の表面・界面の構造解析技術
• 新しい材料表面・界面評価法-同軸型直衝突イオン散乱分光法 (CAICISS)
• 30p-TJ-4 CAICISSによるMBEプロセスのその場観察(30pTJ 表面・界面)

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