技術トピックス 材料 SQUIDを用いた新しい非破壊検査技術--C/Cコンポジットの複合欠陥の検出

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概要

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著者

• 葛西 直子

  早大

• 葛西 直子

  産業技術総合研究所

• 廿日出 好

  豊橋技術科学大学

• 高島 浩

  産業技術総合研究所

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