LANコネクタの漏話制御--理論と実際 (特集 各種コネクタのEMC設計事例)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• ミマツコーポレーションの論文

著者

• 斧田 誠一

  (株)渡辺製作所

• 井上 恵一

  (株)渡辺製作所

• 斧田 誠一

  (株)渡辺製作所開発部

関連論文

• BOF(Band-pass filter On Fiber-end)のポストアニールによる中心波長変化(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• CS-4-4 ビームカット時間差透過/反射比方式による光ファイバ振動計測(CS-4.計測技術と機構デバイス,シンポジウムセッション)
• CS-4-3 高性能BOF温度センサプローブの実用化(CS-4.計測技術と機構デバイス,シンポジウムセッション)
• C-5-11 スタブ構造によるファイバセンサヘッドのディスクリート化に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 参照BOFによるBOF/DWPR温度計測の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 参照BOFによるBOF/DWPR温度計測の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摂動遮断法による光ビームプロファイラ(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 摂動遮断法による光ビームプロファイラ(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• CS-3-3 2波長プッシュプル反射比計測方式による多点温度観測システム(CS-3.環境と光技術,シンポジウムセッション)
• CS-3-3 2波長プッシュプル反射比計測方式による多点温度観測システム(CS-3.環境と光技術,シンポジウムセッション)
• B-13-33 時間差透過/反射比方式(DT3R)の高速化(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• B-13-5 時間差透過/反射比方式(DT3R)によるFBG動歪センンシング(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• B-13-6 時間差透過/反射センサ(TRS)による温度センシング(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• C-5-10 バス方式PNCRセンサシステムのS/N解析(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 時間差透過/反射センサによる変位センシングの試み(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• 時間差透過/反射センサによる変位センシングの試み(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• 時間差透過/反射センサによる変位センシングの試み(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• 時間差透過/反射センサによる変位センシングの試み(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• 時間差透過/反射比光計測方式(DT3R)の提案(光ファイバ,光ファイバケーブル,光ファイバ部品,光信号処理,光計測,光伝搬,光発生,一般)
• C-5-16 BOF/DW-PNCR系温度計測における波長変動の影響(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-15 BOF/DW-PNCR系における多重反射と対策(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• 全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• C-5-7 光ファイバ破断面の反射特性(C-5.機構デバイス,一般講演)
• B-13-32 DWPRによるバイオエタノールセンサの提案(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• BOF(Band-pass filter On Fiber-end)のポストアニールによる中心波長変化(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• BOF(Band-pass filter On Fiber-end)のポストアニールによる中心波長変化(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• BOF(Band-pass filter On Fiber-end)のポストアニールによる中心波長変化(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• C-5-5 スタブ型BOFを用いた温度センサプローブ(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• CS-4-4 BOFの温度及び圧力印加による反射スペクトルシフト(CS-4.センシング・計測技術,シンポジウム)
• C-5-8 多極圧接コネクタにおける押下力緩和(C-5.機構デバイス,一般講演)
• BOF反射スペクトルの膜厚方向圧力依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF反射スペクトルの膜厚方向圧力依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF反射スペクトルの膜厚方向圧力依存牲(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF反射スペクトルの膜厚方向圧力依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF (BPF On Fiberend) 反射スペクトルの温度依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF (BPF On Fiberend) 反射スペクトルの温度依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF(BPF On Fiberend)反射スペクトルの温度依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• BOF (BPF On Fiberend) 反射スペクトルの温度依存性(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
• C-5-7 UコンタクトW-R-D特性の線径依存性に関する実験的検討(C-5. 機構デバイス, エレクトロニクス2)
• C-5-2 LANコネクタの対間相互インダクタンスと漏話補償(C-5.機構デバイス)
• スイッチングHUB内蔵電話/LANローゼットの開発
• B-13-31 CO_2レーザによるBOFのポストアニール(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• C-5-13 2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の提案(C-5.機構デバイス,一般講演)
• CS-4-3 2波長擬似ランダム符号相関方式によるBOF温度センシングの試み(CS-4.センシング・計測技術,シンポジウム)
• C-5-12 擬似ランダム符号相関方式によるファイバレーリ散乱の検出(C-5.機構デバイス,一般講演)
• LANコネクタの漏話制御--理論と実際 (特集 各種コネクタのEMC設計事例)
• 反射計測系における多重反射の影響と対策
• C-5-15 SDFによるファイバ変位センシングの提案(C-5.機構デバイス,一般講演)
• C-5-14 BOFによるファイバ温度センシングの提案(C-5.機構デバイス,一般講演)
• CS-5-2 コネクタ漏話特性の複素評価に関する新提案(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
• 変調周波数領域光反射計測方式 (MFDR) の応答解析と原理実験
• 変調周波数領域光反射計測方式(MFDR)の応答解析と原理実験
• LANコネクタの漏話制御に関する考察 : 理論と実際
• C-5-1 多線条伝送路の漏話補償に関する一考察
• B-8-32 電話用ローゼットの LAN 共用化
• B-8-31 LAN コネクタの特性評価に関する一考察
• C-5-9 BOF圧力感度の増感と制御(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• B-13-35 TDMAによるDWPRの応答倍速化(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• C-5-2 電話用埋込型ローゼットの Cat. 5e 化
• BCS-1-9 BOF/DWPRによる圧力/温度多点同時計測(BCS-1. 光ファイバ接続技術の現状と将来動向,シンポジウムセッション)
• B-13-14 BOF圧力センサの試作(B-13. 光ファイバ応用技術,一般セッション)
• 光ファイバ端の誘電体多層膜を用いた液体・固体の屈折率センサ
• BCS-1-9 BOF/DWPRによる圧力/温度多点同時計測(BCS-1.光ファイバ接続技術の現状と将来動向,シンポジウムセッション)
• BCS-1-10 BOF温度センサ及び圧力センサ(BCS-1.光ファイバ接続技術の現状と将来動向,シンポジウムセッション)
• BCS-1-10 BOF温度センサ及び圧力センサ(BCS-1. 光ファイバ接続技術の現状と将来動向,シンポジウムセッション)
• 電話/LAN共用ローゼット基板のHAST試験
• C-5-3 電話/LAN共用配線基板のHAST試験(C-5.機構デバイス)
• B-13-20 DWPRによるラマンDTSの提案(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
• B-13-31 MEMSエタロン光加速度センサの提案(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク