信号処理を用いた4探触子TOFD法による欠陥位置および高さ測定 (〔日本実験力学会〕2006年度年次講演会)

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概要

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• 日本実験力学会の論文

著者

• 黒川 悠

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 井上 裕嗣

  東京工業大学大学院理工学研究科

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