散逸エネルギー計測による切欠試験片の疲労限度の評価

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概要

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• 2010-04-25

著者

• 井上 裕嗣

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 入江 庸介

  パナソニック(株)

• 森 大樹

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 高尾 守道

  パナソニック(株)

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