界面近傍はどうなっているか--CBED法およびEELS法による金属半導体界面近傍の評価 (特集 ナノワールドへご招待(1)新しい手法編)

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概要

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著者

• 若山 裕

  (独)物質・材料研究機構

• 若山 裕

  物質材料研究機構ナノマテリアル研究所

• 若山 裕

  物質・材料研究機構半導体材料センター

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