アナログ・ディジタル変換器のダイナミック特性試験器

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概要

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従来,アナログ・ディジタル(A/D)変換器の特性を評価する試験方法として,直流または低周波のアナログ信号を試験デバイスに与え積分非直線性誤差,微分非直線性誤差を評価するスタティック試験が行われてきた.しかし,実際には,高い周波数のアナログ信号を連続,かつ高速にA/D変換する目的でA/D変換器を使用することが多くなり,A/D変換器のダイナミック特性評価が要求されている.このような要求に答えるためのA/D変換器のダイナミック特性試験器は既に開発されているが大変高価である.ここでは,安価に実現できるA/D変換器のダイナミック特性試験器を開発したので報告する.試験方法としてFFT試験,正弦波カーブ・フィット試験を採用している.ここで製作した試験器を用いて市販のビデオ用A/D変換器の性能評価を行った.
電子情報通信学会の論文
1994-09-26

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