28p-H-7 p型ポーラスシリコン/電解質溶液界面からのエレクトロルミネッセンス
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1995-03-28
著者
関連論文
- 和周波発生(SFG)による水素終端Si表面の研究
- 金表面上に高密度に形成した遷移金属ホスフィンおよびイソシアニド錯体単分子層を利用した触媒反応場の構築
- 再構成したAu(111)電極表面上へのAg析出における電極電位の効果
- 化学的アプローチによるナノ領域の操作 : 固体表面における原子, 分子の構造制御集積による機能性物質相の創成
- 非線形分光法による電極表面構造解析
- 原子・分子レベルでの固液界面構造のその場観察
- 和周波発生(SFG)による固液界面における水分子の構造評価
- 電極表面X線散乱法 : Au (111) 単結晶電極上に電析した異種金属層のその場構造追跡
- 放射光による電気化学反応性評価
- Au電極表面におけるPd薄膜の成長過程
- 固体表面における自己組織化単分子層の形成・構造・機能
- 第18回 固体・表面光化学討論会 報告
- STM, AFMを用いた電極表面反応の追跡
- 金-イオウ結合の利用:自己組織化単分子膜 (SAM)
- 自己組織化単分子膜における可視光励起電子移動
- フェムト秒ポンプ-プローブ拡散反射吸収分光法による半導体光励起初期過程の追跡
- 半導体光触媒の構造-活性相関と超高活性光触媒の開発
- 非線形分光法による固液界面計測と界面水の構造評価
- 金属単結晶表面での増強ラマン分光
- 多孔質性(ポ-ラス)シリコンの物性とその応用
- 28p-H-7 p型ポーラスシリコン/電解質溶液界面からのエレクトロルミネッセンス
- 小規模支部の役割と意義
- ケーススタディ-電気化学における測定と評価 電気化学的界面における吸着のin situ測定と評価 (1)吸着状態-STMによる評価
- 自己組織化法による固体表面の機能化
- 電着法による化合物半導体薄膜の作製
- 2. 放射光による電極表面の観察
- 自己組織化単分子膜 - 構造制御と機能付与 -
- 光のかかわる機能をもった自己組織化単分子層
- サマリー・アブストラクト
- 自己組織化単分子層装飾による固体表面の光機能化およびその制御
- Mallouk 研(ペンシルバニア州立大学)にて
- 原子間力顕微鏡による電極表面反応のその場追跡
- 原子間力顕微鏡による半導体表面の溶液中、電位制御下での観察 : GaAsの電気化学エッチング過程の追跡と原子像