残差切除法によるCoupled Perturbed方程式の解法

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概要

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• 楕円型偏微分方程式の数値解法として優れた収束性を有す残差切除法を，Coupled Perturbed（CP）方程式の解法に適用した．本方法は，CP方程式の解法においても優れた収束性を示し，小さい分子についてはPople法と同等な性能を示した．分子のサイズが大きくなるにつれて，収束到達までのステップ数が増えるが，Pople法と同等か，もしくは勝る結果を与えた．分子サイズが大きな系では，残差切除法の特徴から，収束性，記憶容量や計算量において本方法が有利となる可能性が示された．

著者

• 佐藤 文俊

  東京大学生産技術研究所 機械・生体系部門

• 阿部 敏彦

  東京大学生産技術研究所　機械・生体系部門

• 関根 義人

  株式会社エイ・エス・アイ総研

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