けい光X線分析における濃度パラメーター法の状態分析(Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>-AlF<SUB>3</SUB>系)への応用 : 固有X線の化学シフトとその応用(第1報)
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概要
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けい光X線分析における重複の程度が著しい重複線を数学的に分離する方法として濃度パラメーターを導入した.従来重複線を数学的に分離する場合にはそれぞれの物質の固有X線スペクトルのピークの頂点にあたる分光角で重複線のX線強度を測定していた.<BR>本法は重複線のピークプロフィル全体の情報を利用し統計的手法を用いて濃度パラメーターを計算することにより重複線を精度よく分離することができる.<BR>この方法を用いてAl<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>-AlF<SUB>3</SUB>系のけい光X線分析を行なった結果,誤差は0.17%であった.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
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