低温ミクロ示差熱分析装置
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概要
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A highly sensitive low temperature micro DTA apparatus has been presented which is suitable for continuous measurements from -150°C to +500°C. The furnace is side-cooled and samples can be easily put in and taken out. The baseline stability is better than ±5μV at 10°C/min. in air atmosphere.<BR>The sensitivity and the relation between peak area and sample size are examined. The temperature of the melting peak of <I>m</I>-xylene is constant regardless to sample size and heating rate.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
著者
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秋山 純一
(株)島津製作所科学計測事業部科学計測第二工場
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秋山 純一
株式会社島津製作所
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沖野 孝之
(株)島津製作所科学計測事業部
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国松 克臣
(株)島津製作所科学計測事業部
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秋山 純一
(株)島津製作所科学計測事業部
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