リン酸二水素アンモニウム(ADP)分光結晶の育成およびX線反射強度
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概要
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リン酸二水素アンモニウム(ADP)分光結晶を一床・恒温・環流方式<SUP>1)</SUP>の方法を応用して育成し,自然面および切断面を得た.X線の反射強度の理論から結晶の表面状態と強度の相関に着目し,長波長領域での完全面とモザイク面のX線反射強度の逆転を理論的に推論し,実験的研究を行なった.<BR>実験試料として育成より得られた自然面,または切断面をエッチした結晶面(完全面)と,けい光X線分析装置の付属結晶2種および研摩処理を施したもの4種(モザイク面)とを比較検討した.いずれも推論どおりで,長波長ではモザイク結晶の強度が減少し,完全結晶との比強度が逆転する現象が確認された.また自然面を表面処理することにより,この傾向が追跡できた.<BR>以上からADP分光結晶をマグネシウム分析に用いる場合には,従来行なわれているような結晶の表面処理は有害であり,できるかぎり完全な結晶面を反射面とするのがよいと結論された.
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