Nd2-xSrxNiO4の合成と物性 (酸化物系超伝導物質と材料<特集>)
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概要
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Structural and electrical properties of the system crystallizing in K<SUB>2</SUB>NiF<SUB>4</SUB> structure, Nd<SUB>2</SUB>-xSrxNiO<SUB>4</SUB> (O≤X≤1.4) were studied. Powder X-ray diffraction data were analyzed by the Rietveld method to determine the bond lengths. Tetragonality in the lattice parameters, c/a, shows a maximum at x=0.6, while, distotion of a NiO6 octahedoron, Ni-O(2)(//c-axis) /Ni-O(1)(//a-axis), monotonously decreases. No Jahn-Teller distotion appears in a Ni3+ region. From the measurements of Seebeck-coefficient and conductivity, the change in conduction mechanism was observed at x=0.6.
- 社団法人 粉体粉末冶金協会の論文
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