Niで汚染したSi表面の再配列構造
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概要
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Ni-contaminated surfaces of coverages less than 0.1 ML (monolayer) were studied by low-energy electron diffraction (LEED), Auger-electron spectroscopy (AES) and ion channeling and blocking spectroscopy with varying surface heat treatment. The reconstructed structures of Ni-contaminated surfaces of Si vary with the Ni-concentration in the surface, which changes depending on the heat treatment.<BR>The surface reconstructed structures on Ni-contaminated surfaces for Si (110), (100) and (111) have been discussed on the basis of our experimental results of LEED with referring to other results of scanning tunneling microscopy (STM) .
- 日本結晶学会の論文
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