走査型トンネル顕微鏡によるH/Si(110)表面での昇温脱離過程の観察
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概要
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- 1998-03-20
著者
-
市ノ川 竹男
早稲田大学 理工学部
-
大島 忠平
早稲田大学理工学部応用物理学科
-
安 東秀
早稲田大学応用物理学科
-
井藤 浩志
早稲田大学応用物理学科
-
川崎 豊誠
早稲田大学応用物理学科
-
川崎 豊誠
早大理工
-
大島 忠平
早稲田大学 各務記念材料技術研究所
-
大島 忠平
早稲田大学理工学部
-
市ノ川 竹男
早稲田大学
-
市ノ川 竹男
Department Of Applied Physics Waseda University
-
大島 忠平
早稲田大学
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