6.3 AFM/STMによる半導体の複合観察

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本結晶学会の論文

著者

• 森田 清三

  広島大学理学部物理学科

• 菅原 康弘

  広島大学理学部物理学科

• 深野 善信

  広大理

• 深野 善信

  広島大学理学部

• 菅原 康弘

  広島大学理学部

• 森田 清三

  広島大学理学部

関連論文

• 摩擦力顕微鏡 -ミクロな摩擦力の解釈-
• 2次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジーの研究
• 2a-YF-1 シリコン酸化膜表面に接触帯電した電荷の散逸過程の研究
• 28p-C-8 シリコン酸化膜表面に接触帯電した電荷の散逸過程の研究
• 非接触モード超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察
• 超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および非接触原子分解能観察
• 原子間力顕微鏡(AFM)
• 走査型マイクロプローブ顕微鏡
• 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (3)
• 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (2)
• 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (1)
• 超高真空原子間力顕微鏡によるGaAs(110)劈開面の観察
• AFM/STM (マイクロマシンとマイクロトライボロジ-) -- (マイクロトライボロジ---マイクロアナリシスツ-ル)
• 6.3 AFM/STMによる半導体の複合観察

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク