セラミックスの粒界と組成
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概要
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The recent applications of a conventional transmission electron microscope (TEM) and an analytical electron microscope (AEM) to studying ceramic grain boundaries are reviewed. Dislocation structures at small angle grain boundaries and the difficulty in observing general high angle grain boundaries with TEM are presented by using examples of micrographs observed. Elemental analysis data of Sialon and phase separated glass with AEM are also described.
- 日本結晶学会の論文
著者
-
坂東 義雄
無機材研
-
板東 義雄
科学技術庁無機材質研究所超微細構造解析ステーション
-
守吉 佑介
法政大 マイクロ・ナノテクノロジー研究セ
-
守吉 佑介
科学技術庁無線材質研究所
-
板東 義雄
科学技術庁・無機材質研究所
-
守吉 佑介
科学技術庁・無機材質研究所
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