キクの無側枝性評価のための簡易な幼苗及びインビト口検定法の開発
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概要
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イオンビームを照射する突然変異誘発処理によって無側枝性キク品種を短期間に効率的に育成するため、キクの無側枝性を簡易に評価・検定する二つの方法を開発した。1．夏季にキク穂をセルトレイに挿し芽し、摘心して葉腋から伸長する腋芽の有無で評価する幼苗検定法を開発した。この方法によって、狭い面積で短期間に無側枝性を検定することができる。2．キク培養植物を25℃～30℃条件下で培養し、摘心して上位の葉腋から伸長する腋芽の有無で評価するインビトロ検定法を開発した。この方法によって、無側枝性を一年中、検定することができる。
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