28pAL-7 半導体光陰極を用いたTEMの空間コヒーレンス測定(28pAL X線・粒子線(電子線,陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2014-03-05

著者

• 竹田 美和

  名大院工

• 田中 信夫

  名大院工

• 楠 聡一郎

  名大院工

• 桑原 真人

  名大院工

• 南保 由人

  名大院工

• 齋藤 晃

  名大院工

• 宇治原 徹

  名大院工

• 浅野 秀文

  名大院工

• 鮫島 健介

  名大院工

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