齋藤 晃 | 名大院工
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概要
関連著者
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鮫島 健介
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著作論文
- 26aKE-5 スピン偏極透過電子顕微鏡における電子線空間干渉性(X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28pAL-7 半導体光陰極を用いたTEMの空間コヒーレンス測定(28pAL X線・粒子線(電子線,陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))