7aSN-7 H-Si(111)上に成長したSrO薄膜の構造と応力の同時観察(結晶成長・表面界面ダイナミクス,領域9)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-08-13

著者

• 朝岡 秀人

  日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門

• 北條 喜一

  原研東海研

• 斉木 幸一郎

  東大

• 朝岡 秀人

  原研東海研

• 山本 博之

  原研東海研

• 小間 篤

  東大

• 町田 ユスト

  原研東海研

関連論文

• Si(110)-16×2単一ドメイン表面の作製
• 格子不整合Sr/H-Si(111)における埋もれた水素単原子層界面の中性子反射率測定
• 30a-PS-93 Fe-Niインバー合金のメカニカルアロイングと磁性
• Ge/Si(111)-7×7ヘテロエピタキシャル成長におけるストレスその場測定
• 17aC07 水素終端Si基板上の薄膜成長過程における歪み、内部応力のその場観察(結晶評価・その場観察(2),第35回結晶成長国内会議)
• 25pCL-10 試料垂直型偏極中性子反射率計「写楽」(BL17)の現状(25pCL X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 20aAG-4 J-PARC偏極中性子反射率計の開発(IV)(20aAG X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pEH-10 アモルファスGeカルコゲナイド薄膜への銀の光拡散の中性子反射率測定による研究(27pEH 領域5,領域1合同 メタマテリアル・プラズモニクス・顕微・近接場分光・表面,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
• 26aXZB-7 J-PARC偏極中性子反射率計の現状と展望I(26aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pEH-10 アモルファスGeカルコゲナイド薄膜への銀の光拡散の中性子反射率測定による研究(27pEH 領域5,領域1合同 メタマテリアル・プラズモニクス・顕微・近接場分光・表面,領域5(光物性))
• 26aXZB-7 J-PARC偏極中性子反射率計の現状と展望I(26aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(中性子),ビーム物理領域)
• 7aSN-7 H-Si(111)上に成長したSrO薄膜の構造と応力の同時観察(結晶成長・表面界面ダイナミクス,領域9)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク