半導体レーザの雑音特性を用いた物理乱数の生成 : 発振周波数安定化が物理乱数に及ぼす影響に関する考察(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
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概要
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半導体レーザは、キャリア密度の変動で利得や屈折率が変動し、単一縦モード発振中でも周波数雑音が発生する。我々はこの半導体レーザの周波数雑音を、周波数弁別器を用いて光強度雑音に変換し、更にA/Dで2進数にすることで、物理乱数の生成を行ってきた。しかし、半導体レーザの発振周波数が大きく変動すると、生成される乱数の乱数性が劣化する可能性がある。そのため、安定化半導体レーザによる物理乱数の乱数検定通過率を測定した。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-08-16
著者
-
大河 正志
新潟大工
-
佐藤 孝
新潟大工
-
新井 秀明
新潟大学大学院自然科学研究科
-
佐藤 孝
新潟大学自然科学系
-
大河 正志
新潟大学
-
佐藤 孝
新潟大学
-
坂本 秀一
新潟大学
-
齊藤 高大
新潟大学
-
古川 元一
新潟大学
-
新井 秀明
新潟大学
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