6.EBITにおける高Z多価イオンの生成と分光(高温プラズマにおける高Z多価イオンの分光と原子構造,研究最前線)

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概要

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• 電子ビームイオントラップ(electron beam ion trap: EBIT)は大学の研究室に収まるサイズでありながら,完全電離に至るまでのあらゆる価数のタングステンイオンを生成可能な装置である.生成されたイオンはEBIT内の狭い空間に長時間トラップされつつ,単色電子ビームにより励起され発光する.波長表にない発光線の探索・同定の他,励起・電離・再結合など電子衝突過程の断面積測定に有用である.単色電子ビームのエネルギーを適宜走査することにより,2電子性再結合などの共鳴過程を抽出することも可能である.多価イオンを分光学的に研究する上で正に理想的な光源といえる.本章では特に,電気通信大学において開発された2種のEBITによる,可視から硬X線までの広範な波長領域にわたるタングステン多価イオンの分光研究について,最近の進展を紹介する.

• 2013-05-25

著者

• 坂上 裕之

  テキサスa&m大

• 中村 信行

  電気通信大学レーザー新世代研究センター

• 坂上 裕之

  核融合科学研 連携研究推進セ

• Schuessler H.a.

  Texas A & M Univ.

• 中村 信行

  電気通信大学

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