16-7 CMOSイメージセンサにおけるカラム高ゲインアンプと積分器のノイズ解析(第16部門 情報センシング1)
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概要
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In this paper, the noise reduction effect of a low-noise signal readout technique for CMOS image sensors is described. The column low-noise readout circuits have high-gain amplifiers and integrators to reduce thermal and 1/f noises. As a result of noise analysis, very low-noise level of 18.4 μVrms is estimated.
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2006-08-01
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