23-7 2重積分型方式を用いたCMOSイメージセンサ用高分解能カラムADC(第23部門 イメージセンサII)
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概要
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A column-parallel double-integration-type A/D converter(ADC) for CMOS image sensors is presented. This ADC simultaneously reduces the random noise of readout circuitry and the quantization noise of the ADC. Simulation results show that the resolution of the ADC can be improved by a factor of 5 bits using 1024 times integration.
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2005-08-01
著者
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