ファブリ・ペロー干渉計の原理を利用した光ファイバ端面の検査技術(光ファイバケーブル・コード,通信用光ファイバ,光ファイバ線路構成部品,光線路保守監視・試験技術,接続・配線技術,光ファイバ測定技術,光コネクタ,ホーリーファイバ,機能性光ファイバ,光信号処理,光ファイバ型デバイス,光測定器,レーザ加工,ハイパワーレーザ光輸送,光給電,一般)

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概要

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ファブリ・ペロー干渉計の原理を用いた新しい光ファイバ端面検査技術を提案する。検査対象のファイバ端面に平滑な計測用ファイバ端面を近接させて、2波長で反射減衰量を測定し、その値が14.7dBに等しいか否かで、ファイバ端面がカット不良端面であるか正常端面かの判定を行う。また、提案した検査技術を実現する端面検査システムについて提示し、そのシステムで使用する新たなファイバステージについても言及する。更に正常端面と複数のカット不良端面を作成し、端面検査システムで評価した結果を示す。その結果、この端面検査システムによりカット不良端面もしくは正常端面を正しく判定することが可能であった。
2011-08-18

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