メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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メモリモジュールメーカでは,品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある.しかし,市販されているメモリモジュールテスタは高価であることや,低コストのものは任意のテストパターンの作成が行えないなどの問題がある.そこで我々は評価とテストに対する自由度があり,低コストなメモリモジュールテスタの開発を行なった.このテスタでは,メモリテストアルゴリズムに基づくメモリテストプロセッサとDDR3メモリモジュールインタフェースをFPGAに実装している.本稿では,開発したDDR3メモリモジュールテスタについて述べ,更に試作したテスタを使用した評価結果を報告する.
- 2011-02-07
著者
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土屋 秀和
東海大学連合大学院理工学研究科
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浅川 毅
東海大学大学院工学研究科:(現)東海大学情報理工学部コンピュータ応用工学科
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関 達也
株式会社テクニカ
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土屋 秀和
株式会社日立ハイテクエンジニアリングサービス
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松埜 智
東海大学大学院工学研究科
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熊澤 慎一
株式会社テクニカ
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浅川 毅
東海大学大学院工学研究科
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