ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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近年,LSIデバイスの動作速度の高速化や回路の大規模化が進んでいる.それに伴って,テスト時の消費電力が問題となっている.そこで我々は,Gated Clockを適用したk分割シフト法TPGを提案し,その故障検出効率および平均電流について評価を行なった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
阿部 高也
東海大学大学院工学研究科
-
土屋 秀和
東海大学連合大学院理工学研究科
-
浅川 毅
東海大学大学院工学研究科:(現)東海大学情報理工学部コンピュータ応用工学科
-
浅川 毅
東海大学大学院工学研究科
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