ブリルアン光相関領域解析法に基づく単一光源による歪と温度の分離分布測定におけるテンポラルゲート法を用いた測定レンジの延伸
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概要
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偏波維持光ファイバにおける誘導ブリルアン散乱(SBS)とブリルアンダイナミックグレーティング(BDG)を局所的に発生、測定することにより、延伸された測定レンジにわたり、温度と歪の分離分布測定に成功した。位置特定には光相関を制御する手法を採用した。従来、この手法の測定レンジは相関ピーク間隔に制限されていた。本研究ではこの制限を克服すべく、テンポラルゲート法を取り入れ、レンジを〜8mから〜500mに伸ばした。また、単一光源で駆動するシステムを採用しており、本システムでのテンポラルゲート法の効果を確認した。500m長の光ファイバに沿ったある部分で歪や温度を変化させ、歪と温度の分離分布測定を実証した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-01-20
著者
-
何 祖源
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
鄒 衛文
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻
-
山下 健二
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
鄒 衛文
上海交通大
-
山下 健二ホドリーゴ
東大
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科
-
山下 健二ホドリーゴ
東京大学大学院工学系研究科
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