多重位相変調光周波数コムを用いた光リフレクトメトリ
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概要
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光ファイバの故障点を診断する技術として,様々な光ファイバリフレクトメトリが研究・開発されており,その性能も飛躍的に向上している.これまでに,我々は高空間分解能・高ダイナミックレンジ・高速測定が可能な,"光周波数コムを用いた光コヒーレンス領域リフレクトメトリ"を提案し,空間分解能2cm,ダイナミックレンジ35dB,測定時間1Osecの分布測定を実現したことを報告した.しかし,光周波数コムを用いた光コヒーレンス領域リフレクトメトリでは,空間分解能と測定レンジにトレードオフの関係があり,実験において,測定レンジは1.25mに制限されていた.そこで本論文では,新たに多重位相変調を用いた光周波数コム発生手法を提案し,光周波数コムのサイドバンドの本数を増加できることを確認した.発生した多重位相変調光周波数コムにより,空間分解能を保ちつつ,測定レンジを延伸でき,実験により,測定レンジ12mの反射率分布測定を実現した.本手法により,測定レンジ延伸の方向性を示した.
- 2010-01-14
著者
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
何 祖源
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
高橋 央
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
保立 和夫
東京大学
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科
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