光周波数コムを用いた光コヒーレンス領域リフレクトメトリ(高機能光ファイバ及び一般)
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概要
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光ファイバの故障点を診断する技術として,様々な光リフレクトメトリ技術が研究・開発されており,その性能も飛躍的に向上している.これまでに,当研究室では光波コヒーレンス関数の合成法(SOCF)によるリフレクトメトリを研究し,kmオーダの測定レンジやcmオーダの空間分解能,45dB程度のダイナミックレンジと5s以内の測定時間での分布測定を行ってきたが,これらの性能を全て同時に実現させることはできていない.これは,光源の変調法(階段型変調と正弦波変調)に起因する問題である.そこで本稿では,光源に新たに「光周波数コム」を用いることで,空間分解能・ダイナミックレンジ・測定速度を併せ持つ新たな光コヒーレンス領域リフレクトメトリを提案する.本手法に用いるための光周波数コムは,コム間隔をkHz-MHzで広帯域に変化させる必要がある.そのため,コム間隔可変の光周波数コムを,ファイバリング型の共振器と位相変調器を用いて発生させた.コム間隔は,40MHzから80MHzまで可変にすることに成功した.この光源を用いて光リフレクトメトリの原理確認実験を行い,正弦波変調型SOCFによるリフレクトメトリでは測定できなかった50cm間隔のPCコネクタとAPCコネクタを同時に測定することができた.光周波数コムを用いた光コヒーレンス領域リフレクトメトリにおいて,空間分解能5cm,ダイナミックレンジ45dB,測定時間10sの分布測定実験に成功し,本手法が空間分解能・ダイナミックレンジ・測定速度を併せ持つ反射率分布測定において有効であることを実証した.
- 2009-05-21
著者
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
何 祖源
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
高橋 央
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
保立 和夫
東京大学
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科
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