シングル掃引周波数平均法を用いた高精度光周波数領域リフレクトメトリ(高機能光ファイバ及び一般)
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概要
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高空間分解能,高感度と広ダイナミックレンジをもつ光周波数領域リフレクトメトリ(OFDR)は光ファイバデバイス・ネットワークの診断や光コヒーレントトモグラフィ(OCT)に応用されてきた.OFDRにおいて,被測定ファイバ内のランダムな後方散乱と多重反射が干渉してフェイディングノイズというノイズのような現象を起こし,このノイズを低減させるために異なる中心周波数を用いた測定結果を平均する手法がある.但し,これを実現する一般的な方法は光源の複数回の周波数掃引を必要とし,測定時間が長くなってしまう.本研究では,単一の光周波数掃引で得られたデータを平均する手法を提案し,光ファイバレーザーを用いた実験系でその性能を確認した.このシステムのノイズフロアは-110dBで,データ処理を含む測定時間は数秒以内に抑えることができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-05-21
著者
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
何 祖源
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
山下 健二
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
保立 和夫
東京大学
-
山下 健二ホドリーゴ
東大
-
保立 和夫
東京大学大学院工学系研究科
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