1025 生体膜の分光断層像計測を目指して(OS25:生体光計測)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2010-01-08
著者
関連論文
- テーブル参照による多波長レーザ光干渉像からの3次元形状抽出
- 適応型干渉縞解析による微小形状計測
- 光圧力駆動微粒子によるマイクロ流体粘性計測技術
- 位相シフトデバイス用センシング機能付き垂直駆動型MEMSミラー (第13回 知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)
- 単一細胞局所投薬マイクロプローブ技術--光圧力による微粒子の多自由度マニピュレーション
- 高感度高空間解像度2次元分光計測技術--単一細胞内蛍光標識3次元分光分布計測
- 光音響法に基づいたCaF_2レンズ透過率計測における内部残留応力の影響とそれによる極紫外光の吸収モデル
- 相対ステレオ法による人間の姿勢の計測
- 透明浮遊細胞高速トラッキングのための光学的可視化技術
- 光熱変換効果による不透明多層膜厚計測技術(第2報) : 音響インピーダンス界面間共振モード解析による多層膜厚計測技術
- 光圧細胞回転技術による膜表層蛍光分布計測技術
- 光パルス幅変調による近接2光束ピンセット回転トルク制御
- 浮遊細胞の3次元位相差像イメージング技術
- 光音響法による紫外線用CaF_2レンズの透過率計測手法の研究(第1報) : 大口径レンズ透過率計測技術
- 回折光プローブによる6自由度位置姿勢計測
- 単一細胞分光トモグラフィーにおける正規化相関仮想投影像照合による回転中心補正アルゴリズム
- 近接2光束ピンセットによるマイクロ粒子断層像計測技術
- 光熱変換効果による不透明多層膜厚計測技術(第1報) : 単層膜を用いた共振波計測と粗面の高周波非接触振動計測技術
- C-3-130 仮想位相格子による生体単一細胞並進速度計測技術(C-3. 光エレクトロニクス(光記録・計測), エレクトロニクス1)
- 単一細胞分光トモグラフィによる3次元分光イメージング
- 差しろう付けにおけるろう溶融域の画像計測技術による新インプロセス制御方法
- マイクロマニピュレータの相対位置姿勢同時計測技術
- CS-12-6 単一細胞分光トモグラフィに関する研究 : 微小球体回転制御技術と可変位相差顕微分光方式(CS-12. 次世代ナノ技術と情報通信, エレクトロニクス2)
- ファジィニューラルネットワークの構築法とファジィルールの自動生成
- 長尺形鋼材の曲げ矯正法とファジィクラスタリングを用いた加工力の推定
- 光圧力操作マイクロプローブによる細胞の粘弾性力分離計測
- 微小アクチュエータを用いた可変位相差方式形状計測法(マイクロメカトロニクス,IIP2004 情報・知能・精密機器部門講演会)
- 位相シフト法を用いた高速三次元形状計測
- 3次元ナノ立体形状の実時間計測 (特集1 画像処理アルゴリズム)
- パターン検査装置のための色彩検査機能の開発
- 分光
- 1025 生体膜の分光断層像計測を目指して(OS25:生体光計測)
- 結像型2次元フーリエ分光法による生体膜分光断層像計測の試み
- 知能メカトロニクス専門委員会 知能メカトロニクス専門委員会研究レビュー
- 光学的可視化による透明浮遊細胞高速トラッキングのための実時間並進速度計測技術
- 生きたままの細胞内3次元成分分布時系列計測--単一細胞分光トモグラフィ (特集 アクティブバイオイメージング--生命活動のリアルタイム計測・イメージングの最前線)
- 細胞診断や体型計測などの光学計測技術
- C-3-129 正規化相関仮想投影像照合による単一細胞断層像解析アルゴリズム(C-3. 光エレクトロニクス(光記録・計測), エレクトロニクス1)
- 単一細胞分光断層像解析アルゴリズム (第10回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)
- 電子ディスプレイにおける色むら感覚強度の学習
- 確率型ファジィ推論の一提案とその磁気ヘッド調整への適用
- 細胞表層蛍光分布スキャナー画像計測技術 (第11回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (光学系)
- 光パルス幅変調手法による生体単一細胞マニピュレーション技術 (第10回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)
- 可変位相差方式による単一細胞分光トモグラフィー技術 (特集 最近話題の画像計測技術)
- 微小異物付着力計測のためのマイクロピンセットに関する研究(マイクロメカトロニクス,IIP2004 情報・知能・精密機器部門講演会)
- 集積回路/平面ディスプレイの異物除去技術--形状成分同時計測手法と高フォトンアブレーション技術
- 光音響効果による不透明多層膜厚の計測--非接触超音波発生方法と粗面微小振動計測技術について
- 結像型二次元フーリエ分光法による分光断層像計測技術