高信頼SSDの長寿命化とその評価法(ネットワーク環境でのディペンダビリティ)

概要

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近年,複数のフラッシュメモリから構成されるソリッドステートドライブ(SSD)の大容量化が進んでいる.記録密度の高いフラッシュメモリはデータに誤りを生じやすいため,従来の誤り制御手法のみではSSDの信頼性低下が懸念されている.また,フラッシュメモリセルはデータの消去回数に限界があるため,書き込みが特定の部分に集中するとセルが劣化し,正しいデータを保持することが不可能となる。フラッシュメモリ内では消去回数の平滑化を行うウェアレベリング技術が用いられているが,実際の書き込みデータの特徴を捉えることは困難であるため,セルの劣化によってメモリの短寿命化が生じる.そこで本研究では,SSDの高信頼化と長寿命化を目的とし,SSD内の一部のフラッシュメモリを利用することによって,ウェアレベリングと誤り制御を行う手法を提案する.提案手法では,通常時はデータの誤り制御を行い,消去回数に偏りが生じている時はチャネル間でのウェアレベリングを行っている.また,セルの劣化を考慮して,ウェアレベリングを行う頻度を調節している.提案手法についてビット誤り率と寿命の評価を行い,信頼性と耐久性に優れていることを示す.
2009-10-13