走査プローブ顕微鏡を用いた表面電荷のナノスケール画像化(<シンポジウム特集>粘土,層状化合物を用いた最先端材料研究)
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概要
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走査プローブ顕微鏡は原子・分子分解能を有する顕微鏡として,表面科学やデバイス評価に広く用いられている.走査プローブ顕微鏡を用いれば,様々な物理量の表面二次元分布を画像化することができるが,本稿では表面電荷に焦点を絞り,電荷観察の原理と応用例について紹介する.走査トンネル顕微鏡による実効バリア高さの測定を利用して,シクロペンテン単一分子やナノサイズCaF_2アイランドの分極状態を画像化した例について述べる.また,静電気力顕微鏡を用いれば,これまで困難と考えられていた,厚い絶縁体上に吸着したナノサイズ吸着物の電荷や分極状態が観測可能であることを示し,マイカ上の金微粒子と粘土(スメクタイト)に関する研究例を紹介する.
- 日本粘土学会の論文
- 2008-04-25
著者
-
川合 知二
阪大産研
-
川合 知二
大阪大学産業科学研究所
-
松本 卓也
大阪大学産業科学研究所
-
松本 卓也
阪大産研
-
川合 知二
大阪大学 産業科学研究所
-
Kawai T
Isir Osaka Univ.
-
Kawai Tomoji
The Institute Of Science And Industrial Research Osaka University
-
Kawai Tomoji
Isir Osaka Univ.
-
Kanno Takashi
The Institute Of Scientific And Industrial Research Osaka University
-
Kawai Tomoji
The Authors Are With The Institute Of Scienctific And Industrial Research Osaka University
-
Tanaka K
Department Of Electronic Engineering Osaka University:(present Address)department Of Chemistry And B
-
Kawai Tsuyoshi
Department Of Chemistry And Biochemistry Graduate School Of Engineering Kyushu University And "
-
川合 知二
大阪大学産業科学研究
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