液晶装荷CPW-FE移相器におけるマイクロ波測定および光学測定の比較(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
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概要
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筆者らは液晶装荷移相器の高速化を図るため,浮遊電極付コプレーナ線路(CPW-FE)構造の液晶装荷移相器を報告した.本論文では,ストレートライン構造の液晶装荷CPW-FE移相器を試作し,種々の構造パラメータを変化させてマイクロ波測定を行い,その応答時間特性および位相特性についての最適化を検討した.併せてITOガラスで製作しだCPW-FE構造の液晶装荷光学セルの偏光顕微鏡を用いた動画撮影による測定を行い,動画の各フレームを比較し,定常状態となる応答時間を測定することにより液晶層に印加する電圧に対する液晶分子のふるまいを確認し,マイクロ波測定結果の定性的物理的説明を可能にした.
- 2008-01-09
著者
-
ディン グェン・コク
防衛大学校電気電子工学科
-
亀井 利久
防衛大学校通信工学科
-
内海 要三
防衛大学校通信工学科
-
亀井 利久
防衛大学校
-
内海 要三
キーコム株式会社
-
ディン グェン
防衛大学校理工学研究科電子工学専攻
-
ディン グェン・コク
防衛大学校理工学研究科電子工学専攻
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