プロセッサ設計におけるSTAとSSTAの解析結果比較および分析(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)

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概要

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• 半導体プロセスに微細化により、製造ばらつきが性能に与える影響が大きくなった。そのため、従来のタイミング解析(STA)でのワーストケース設計ではタイミング設計は困難となっており、新たに統計的タイミング解析(SSTA)の手法が導入され始めた。本論文では、プロセッサの設計において実際にSSTAを適用し、クリティカルパスでの従来のSTAでの解析結果との比較・分析を行った。

• 社団法人情報処理学会の論文
• 2007-11-20

著者

• 伊藤 則之

  富士通株式会社サーバシステム事業本部テクノロジ開発統括部

• 小松 裕成

  富士通株式会社サーバシステム事業本部テクノロジ開発統括部

• 吉田 裕司

  富士通株式会社サーバシステム事業本部テクノロジ開発統括部

• 小松 裕成

  富士通株式会社コンピュータ事業部

• 杉山 広行

  富士通株式会社

• 備前 直美

  富士通株式会社

• 井口 克己

  富士通株式会社

• 吉田 裕司

  富士通

• 小松 裕成

  富士通株式会社 サーバシステム事業本部

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