10-8 異なる照射によるCCDダメージ効果
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概要
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Analysis of physical processes responsible for generation of induced dark current in CCD is presented. Ionization and Nonionization energy losses as well as the damage energy distribution for single interaction of protons, Si ions and neutrons is given. Different inaccuracies of the models and predictions are discussed.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2000-08-23
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