2P1-N-037 近接視ステレオ計測による半導体チップの高精度位置決め(マシンビジョンと外観検査,生活を支援するロボメカ技術のメガインテグレーション)
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概要
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- 社団法人日本機械学会の論文
- 2005-06-09
著者
-
森野 友介
立命館大学
-
石井 明
立命館大学
-
光藤 淳
立命館大
-
石井 明
立命館大学理工学部
-
山本 貴子
Necマシナリー
-
光藤 淳
立命館大学理工学研究科
-
泉水 重幸
立命館大
-
森野 友介
立命館大
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