電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較(線路EMC/一般)
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概要
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To investigate the interference between the circuits inside the equipment, near field emission and noise immunity against small area electromagnetic (EM) disturbance of the circuit were measured and compared. The immunity was evaluated by the measurement of communication performance degradation under EM disturbance. From the measurement the relationship between near field measurement and performance degradation could be obtained in some extent. For further experiment the signal on a circuit was intentionally coupled with other circuit area and performance degradation was measured. The performance degradation was obtained when the signal was put close to the circuit where the similar frequency emission was investigated.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-01-19
著者
-
高橋 丈博
拓殖大学工学部
-
作左部 剛視
拓殖大学
-
澁谷 昇
拓殖大学
-
渋谷 昇
拓殖大学
-
作左部 剛視
拓殖大学大学院工学研究科電子情報工学専攻
-
澁谷 昇
拓殖大学情報工学科
-
大久保 義和
拓殖大学大学院
-
高橋 丈博
拓殖大学 工学部
-
高橋 丈博
拓殖大学工学部情報工学科
-
高橋 丈博
拓植大学工学部
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