最適強度組合せパターン光投影に基づく非均一色物体の3次元画像計測(一般セッション1)
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概要
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パターン光投影に基づく3次元画像計測方法は,非接触で物体の形状や位置を計測することができる.この中で二値化式のパターン光投影手法は,多数回の投影が必要なので計測に時間がかかる,一方,非二値化式のパターン光投影計測手法は原理的には少数回の投影で計測が可能であるが,物体の表面反射率が未知の場合,理想的なしま強度分布を持つ観測パターン画像を得られない問題がある.筆者らは一回の投影でより多くのしま本数を投影し,観測パターン画像よりロバストにしまアドレスを検出するために,投影パターンのしま強度分布を最適化する最適強度組合せパターン光投影手法と,全照明画像を用いて観測パターン画像のしま強度分布を補正する手法を提案した.本研究では,上記のしま強度分布補正手法を拡張し,観測パターン画像のカラー解析に基づく強度補正を用い,非均一色物体の計測を行う.
- 2007-01-11
著者
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