3D06 液晶性有機半導体の電子伝導に与える不純物効果(2004年日本液晶学会討論会)
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概要
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The hole transport in smectic phases of phenyl-naphthalene derivatives doped with impurities, i.e., thiophene derivatives, was characterized by time-of-flight (TOF) technique. We discuss the experimental results on the effect of impurities in terms of the trap depth of impurity and its effect in different smectic phases.
- 日本液晶学会の論文
- 2004-09-26
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