Dependence of Off-Diagonal Components of χ^<(3)> on Substrate Temperature of Epitaxially Grown Vanadyl Phthalocyanine Films

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概要

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• Single-crystalline vanadyl phthalocyanine films have been grown by the molecular beam epitaxy technique. The normalized off-diagonal ratio 3χ_<1221>/χ_<1111> has been determined by circular-polarization third-harmonic generation measurement. It is revealed that the single-crystalline phase with 4mm symmetry can be distinguished from the C_<1221∞v> polycrystalline phase by circular-polarization third-harmonic generation measurement, and the quality of the epitaxial film can be quantitatively analyzed by the normalized off-diagonal ratio of 3χ_<1221>/χ_<1111>.

• 社団法人応用物理学会の論文
• 1993-10-01

著者

• Kim K

  Hynix Semiconductor Inc. Chungchongbuk-do Kor

• Kim K

  Hynix Semiconductor Inc. Chungchongbuk‐do Kor

• Maruyama Y

  Japan Atomic Energy Res. Inst. Ibaraki-ken Jpn

• Maruyama Yusei

  Department Of Functional Molecular Science The Graduate University For Advanced Studies Institute Fo

• HOSHI Hajime

  Department of Organic and Polymeric Materials, Tokyo Institute of Technology

• FANG Shaoli

  Institute for Molecular Science

• KOHAMA Keiichi

  Institute for Molecular Science

• Maruyama Y

  Japan Atomic Energy Res. Inst. Ibaraki Jpn

• Hoshi Hajime

  Department Of Anatomy Nihon University School

• FANG Shaoli

  Department of Functional Molecular Science, The Graduate University for Advanced Studies, Institute

• KOHAMA Keiichi

  Department of Functional Molecular Science, The Graduate University for Advanced Studies, Institute

• Maruyama Yusei

  Department of Chemistry Faculty of science The University of Tokyo

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