試作型電子計測システムによるセントリックの再現性に関する3次元的研究
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概要
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セントリックは咬合の診断と治療を行ううえで, 特に重視されている下顎の基本位であるため, その定義と臨床的誘導法に関する混乱を解消することは, 学問的のみならず日常の歯科臨床上特に重要である. 本研究は顆頭中心の3次元的な位置を精密に計測できる試作型電子計測システムを用い, オトガイ誘導法, 位置関係により比較分析し, セントリックの再現性を評価することを試みた. その結果, セントリックにおける顆頭位の再現性と, 誘導法のちがいによる顆頭の偏位量と方向が3次元的に示された. この研究は, セントリックにおける顆頭位の再現性とその意義, およびセントリックの採得に最も適した下顎の誘導法を明らかにしているため, セントリックに関する見解に一応の結論を見出す指針になると考えられる.
- 日本補綴歯科学会の論文
- 1984-06-01
著者
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