偏向ヨークの数値設計プログラム(<論文特集>Asia Display '95)

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概要

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• 偏向ヨークの数値設計を行うために, プログラムを開発した.従来, 偏向ヨークの偏向磁場単独で行われていた画面特性のシミュレーションを, 電子銃部分の電界計算を含めて計算できるようにした.その結果, 電界計算から磁界計算へと, 一連の計算が容易にできるようになった.また開発したプログラムは, ミスコンバーゼンスなどの画面特性の他に, 偏向感度, 収差計算, 渦電流損失, 磁性片の効果, 漏洩磁界および漏洩磁界キャンセルコイルの最適化設計を行うことができる.本論文では, 開発したプログラムの解析方法, および, 実機に適用して実測値と計算値を比較した結果について述べている.結果は, 両者はおおむね一致し, 開発したプログラムが偏向ヨークの数値設計ツールとして有効であることを示した.

• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 1996-05-20

著者

• 中川 隆文

  三菱電機株式会社先端技術総合研究所

• 中田 修平

  三菱電機株式会社先端技術総合研究所

• 西村 邦彦

  三菱電機株式会社先端技術総合研究所

• 西村 邦彦

  三菱電機株式会社

• 中田 修平

  三菱電機株式会社 先端技術総合研究所 Fedプロジェクトグループ

• 中川 隆文

  三菱電機株式会社

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