SAMを用いたライトストラテジ最適化技術(光記録技術、一般)
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概要
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光ディスク上に記録マークを形成するためにライトストラテジと呼ばれるパルスパターンの照射を行う.高密度記録のためのデータ検出方式PRML(Partial Response Maximum Likelihood)を用いたシステムを評価する指標としてSAM(Sequenced Amplitude Margin)がある.SAMを基準とした新規指標を用いて, パルスだけでなくパワーのずれの方向と大きさを検出し, ライトストラテジを最適化する手法について報告する.検証結果より, 本手法にて的確な調整が行われ, 良好なビットエラーレートと記録パワーマージンが確保できることを示す.
- 2005-10-14
著者
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石井 光夫
シャープ株式会社生産技術開発推進本部
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石井 光夫
シャープ株式会社技術本部
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前田 茂己
シャープ株式会社 デバイス技術研究所
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小嶋 邦男
シャープ株式会社 技術本部
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小嶋 邦男
シャープ株式会社技術本部
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足立 佳久
シャープ株式会社技術本部
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栄藤 淳
シャープ株式会社技術本部
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