Iddq異常現象を用いた、故障ブロック内の故障箇所抽出
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概要
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Iddq(Quiescent Vdd Supply Current)はCMOS論理回路における、静的動作状態での電源電流である。Fault-free電流を大幅に越えた"Iddq異常"は、LSI内部の物理故障が存在する事を示すシグナルである。前回、Iddq異常現象を有するLSIの論理情報から故障ブロックを抽出する故障診断方式を紹介した(ブロック:LSIを構成する基本論理回路単位)。今回、そのブロック内の故障箇所を抽出するアルゴリズムを確立し、実際の故障LSIに適用した。その結果、絞り込んだ故障箇所と故障解析による結果が一致し, 有効性が確証されたので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
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