Iddq異常テストベクタと論理情報を用いた単一故障を有するCMOSLSIの故障診断方式
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概要
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Iddq (Quiescent Vdd Study Current)はCMOS論理回路における, 静的動作状態での電源電流である。Fault-free電流を大幅に越えた"Iddq異常"は, LSI内部の物理故障が存在する事を示すシグナルである。CADを用いて, このIddq異常現象を有するLSIの論理情報から故障ブロック(*)を抽出する故障診断方式を開発した。(*ブロック: LSIを構成する基本論理回路単位)前回, LSIを構成する各ブロックの全ての入力論理の組合せの全集合(Primary Set)からTVに同期して変化する, 各ブロックの入力論理の集合(Transition Set)を用いた演算処理方式を報告したが, 処理の複雑さの為, 処理時間が長くなる欠点があった。今回, 単一故障の診断に的を絞った演算アルゴリズムを開発した。その演算により大規模LSIの診断に成功したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
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