冗長構成をもつATM交換機の試験方式(その2)

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概要

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現用/予備の冗長構成をもつATM交換機では、現用系のみならず予備系の機能ブロックの試験・監視も重要となる。前稿では、現用系機能ブロックに加え予備系機能ブロックの運用中のセル導通試験を可能とする試験方式を提案した。本稿ではさらに、従来方式で必要としていた系構成の変更を不要とし、かつ系間交絡線の試験も可能とする試験方式を提案するとともに、実現機能や信頼性向上度の観点から従来方式との比較を行う。
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-09-26

著者

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